PXI 功能延伸至半导体测试领域

技术分类: 电子/测试    来源:设计创新  发表时间:2008-04-21
  NI最新推出第一款基于PXI的源测量单元(source measure unit,SMU)和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域,如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数,相比传统的方式,具有轻便小巧、性价比高的优点。

  NI PXI-4130 源测量单元是一款可编程、灵活、高功率且适合高精度直流测试应用的3U PXI模块。其相互隔离的SMU通道,可提供包含4 线遥感的四象限± 20 V输出。该通道在象限I 和象限III 中的源极功率高达40W,在象限II和象限IV中的漏极功率高达10W。NI PXI-4130 电源测试单元还有一个额外的电压、电流输出/测试通道,并在一个单槽的PXI模块上实现了电源功能。鉴于共有5个可电流范围提供达1nA 的测量分辨率,因此PXI-4130非常适用于需要编程实现扫描源并且测试其参数的场合,比如在高精度的测试验证以及半导体测试领域。
  “很高兴看到模拟技术的发展和基于FPGA架构的应用可以实现在如此之小的体积上
发挥出卓越的性能”NI测量技术总监Ken Reindel 这样说道。“NI PXI-4130源测量单元是一个在高精度、高功率和小体积特性上的典范,让工程师可以在新的应用领域享有PXI平台带来的种种优势” 。
  更多信息,请访问:http://designnews.com.cn/0804-205.aspx

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