俄勒冈州毕佛顿市, 2008年9月29日 – 全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布，为SATA修订版3.0标准物理层测试提供第一个公布的测试文档。泰克为SATA物理层设计和调试提供完善的高速串行数据测试套件。在www.tektronix.com/sata上可以查看完整的SATA Gen1和Gen2标准实现方法(MOI)及SATA修订版3.0的最新测试指南。
第三代SATA存储接口规范将使最大传送速度翻一番，从原来的3 Gb/s提高到6 Gb/s，为实现更高性能的存储解决方案铺平道路，包括新兴的固态驱动器和企业商业存储需求。通过SATA 6 Gb/s技术，将可以以更快的速率传送大量的数据，这是一个关键优势，因为最终用户正在积攒数量越来越高的高分辨率照片、视频、音乐和其它多媒体文件。新的行业标准将增强高性能、低成本接口的吸引力，巩固其作为数字世界长期存储接口的领导地位。
泰克为高速串行数据技术物理层测试提供业内领先的功能，包括SATA 6 Gb/s。例如，泰克AWG7000B系列任意波形发生器拥有精细分辨率排序器，能够以独特的方式与复杂的状
态机交互，对6 Gb/s主机和磁盘进行链路状态训练。此外，泰克DSA/DPO70000系列示波器是市场上唯一能够在五次谐波及以上采集6 Gb/s发送信号的多通道示波器，为苛刻的一致性测试和调试测试提供了更大的余量和保真度。
“长期以来，泰克一直是高速串行应用和测试解决方案的领导者。”泰克公司技术解决方案部总经理Ian Valentine说，“客户正在为最新的SATA磁盘接口技术寻找测试工具。泰克业内领先的工具和新指南为工程师全面调试和测试新的SATA 6 Gb/s标准提供了所需的功能和详细文档。我们将继续与SATA-IO及其会员企业密切合作，开发测试方法，保证各公司获得相应的测试工具，支持SATA 6 Gb/s产品的快速发展。”
在加州米尔皮塔斯2008年9月29日开始进行的SATA-IO Plugfest初步物理层测试上，测试人员将采用泰克完善的高速串行测试解决方案，对SATA修订版3.0标准进行物理层测试。